一.Fault Class Hierarchy
对于任何层级的分层，工具仅仅分配给一个错误一个class，如果在相同的等级上会分配给一个错误多个class ，那么将故障放置在故障类列表中最先出现的类中。
Testability Calculations
三种重要的指标去评价测试的效率 为test coverage, fault coverage, and ATPG effectiveness.
Test Coverage
度量测试质量
dt 加上一个pd乘上一个pd信用指数作为分子，当然，这个指数可以自己调节，大概率为百分之50左右
分母不在是可测试的错误的 而是将untestable错误加了进来
ATPG Effectiveness
ATPG工具为故障创建测试的能力，或证明在工具的限制下无法为故障创建试验的能力。
我们的目标就是提高test coverage，test coverage 也是最直观体现软件性能的指标
这一章主要讲的是常用的一些术语
Scan Cells
scan cell就像细胞一样，是扫描电路最基本，可以独立访问的单元，也是atpg和错误模拟控制观察点
扫描单元包含位于扫描链路径中的至少一个存储器元件（触发器或闩锁）。该单元还可以包含扫描链路径中可能存在或不存在的其他内存元素，以及内存元素之间的数据反转和选通逻辑。（只要我能够正确的输入和输出，盒子的电路如何并不重要，在这里手册提出了一个概念就是黑盒子）完全可以把scan cell 看成一个黑盒子
除clk外，每个存储器元件还可以有一个设置和/或复位线。ATPG进程通过将正常或反向数据放入其存储元素来控制扫描单元。扫描单元观察点是扫描单元输出处的存储单元（dff）。其他存储器元件也可以观察到，但可能需要一个将其值传播到扫描单元输出的过程。以下描述了扫描单元可能包含的不同内存元素。
scan cell 里最重要的一个元件---主存储元件 就像上述的一个多路dff扫描单元。The shift procedure in the test procedure file controls the master element. （位移程序直接控制master element）
Slave Element
slave element位于扫描链上独立时钟扫描单元存储器元件。它无法直接从先前的扫描单元捕获数据。使用时，它存储扫描单元的输出。shift procedure控制和观察从动元件。slave element的值可以是master element 相反的值
这就是一个slave elemnet 的放置，主元件旁边
如果扫描单元有多个shadow，那只能观察到一个，因为程序只加载一个值。阴影元素的定义基于阴影与它所阴影的主元素具有相同（或相反）的值。主映像和影子的各种互连将实现这一点。
Copy Element
拷贝忍者上线！
将数据捕获到副本相关扫描单元元素中的时钟脉冲也将数据捕获到此副本中。在同一时钟周期的后半部分，数据从相关扫描单元单元传输到复制单元。在shift procedure中，副本包含与其相关内存元素中相同的数据。然而，在系统数据捕获期间，某些类型的扫描单元允许复制元素捕获不同的数据。当副本的值与其关联元素不同时，副本将成为扫描单元的观察点。当副本包含与其关联元素相同的数据时，关联元素将成为观察点。
设扫描链的长度为n，则靠近外部输出引脚的扫描单元为0号，其前身为1号，依此类推。
扫描组是一种基于操作对扫描链进行分组的方法。组中的所有扫描链必须能够并行操作 ，然而，当扫描链不能并行操作时，必须分别指定每个扫描链的操作。这意味着扫描链属于不同的扫描组。示例如图3-9所示。在这种情况下，两个扫描链共享一个扫描输入sci1。
当这些扫描链并行运行时，它们对相同扫描输入的依赖性将对测试覆盖率产生影响，可以通过定义另一个扫描组并将其中一个扫描链分配给它来纠正这种情况。定义多个扫描组的另一个原因是希望在低功耗情况下执行顺序加载。请注意，EDT中不允许多个扫描组。
除了将数据捕获到扫描cell中之外，扫描时钟处于关闭状态时，还可以确保cell保存其数据。drc确保时钟执行这两种功能。时钟的关闭状态是导致扫描元件的时钟输入处于非活动状态（对于闩锁）或捕获转换之前的状态（对于边缘触发设备）的主要输入值。在图3-10的情况下，CLR信号的关闭状态为1，CK1和CK2的关闭状态均为0。
多路DFF单元包含一个带多路输入线的单D触发器，允许选择正常系统数据或扫描数据。在正常操作（sc_en=0）中，系统数据通过多路复用器传输至触发器的D输入端，然后传输至输出端Q。在扫描模式（sc_en=1）中，扫描输入数据（sc_In）传输至触发器，然后传输到扫描输出端（sc_out）