Fault Classes

除了上文提到的UT外，Fault还有另一大类也是我们更加关心的一类TE，即可以检测到的fault。工具在计算test coverage时并不会将UT计算进去，而是计算detect到的fault的数量以及可能detect到的fault占所有fault中除去不可测试的fault的比值，所以提高coverage主要从AU、UD入手。全部Fault的关系如下图所示：

TE（testable）

DT（detected）

所有ATPG可以检测到的fault都被归为DT，主要包括以下两类：

• DI（detect implication）
  使用write_pattern产生的pattern就可以将这些点cover到，不需要专门针对这些点产生test pattern，工具在执行scan chain分析时就发现的fault，通常是扫描链中的fault。
• DS（detect simulation）
  当工具进行fault simulation时检测到的fault归为DS，此时对产生的pattern去看fault simulation的结果，对比good circuit和actual circuit的simulation的结果，如果不同则说明这个fault可以被detect到。
  

Scan chain能cover到的都是DI类型的fault，推的pattern能cover到的是DS类型的，DT=DI+DS。
另外针对path delay的测试还会有以下两类：

• DR（robust detected faults）
  鲁棒性检测，来检测电路容忍噪声的能力。
• DF（functionally detected faults）
  功能性检测，放宽了对路径门控的要求，既不需要像鲁棒性测试那样稳定，也不需要像非鲁棒性测试那样在capture阶段敏感，只要求门控输入不阻碍沿路径传输的转换。

PD（possible detected）

在fault simulation中可能被检测到又不一定被检测到的fault，比如multi-driven的情况,一个点有两个输入，一个输入是0/1不确定的，另一个是1，那么这个点可能是1/X，可能能测到fault也可能测不到。
默认情况下会设定50%的概率用来计算，如果想要更改可以通过set_possible_credit命令来修改。

• PT（possible detect testable）
  潜在的可检测到的fault。
• PU（possible detect untestable）
  ATPG untestable和难以检测的fault。

AU（ATPG untestable）

ATPG无法产生检测到这部分fault的pattern，但又不能证明这部分fault是冗余的，会将这种test point归为AU。引起这部分情况的原因有很多，通常是约束引起的，约束阻止ATPG去产生pattern检测到这部分fault，或者是针对non-scan cell设定的clock sequential depth不足等等。

UD（undetected）

• UC（uncontrolled）
  在test pattern生成之前，所有的testable fault都被定义为UC，无法将特定fault设置为需要状态的点也会被设为UC。
• UO（unobserved）
  如果在fault point不能被propagate到一个可观测的点会被归为UO，如果一个点既不可控又不可观测会被归为UC。